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          • 免费服务热线: 400-928-7919

          徕卡清洁度检测系统

          简要描述:

          在汽车制造领域,大量零部件在图纸上就对清洁度有详细要求,并且要求对残留物颗粒进行全面分析和判定。在整个工作流程中快速获得准确可靠的清洁度分析结果将会是一项巨大的优势。在进行这项质量控制任务时,通常要使用来自多家厂商的多种仪器来进行分析。因此,相确公司选择和徕卡品牌显微镜,推出成套清洁度分析解决方案。客户可以从整体解决方案中获得优势,同时得到专业的建议,从而实现流程优化,并得以持续保持。

          • 产品特点
          • 技术规格
          • 应用领域

            在汽车制造领域,大量零部件在图纸上就对清洁度有详细要求,并且要求对残留物颗粒进行全面分析和判定。在整个工作流程中快速获得准确可靠的清洁度分析结果将会是一项巨大的优势。在进行这项质量控制任务时,通常要使用来自多家厂商的多种仪器来进行分析。因此,相确公司选择和徕卡品牌显微镜,推出成套清洁度分析解决方案。客户可以从整体解决方案中获得优势,同时得到专业的建议,从而实现流程优化,并得以持续保持。

             

            清洁度分析流程 – 步骤

             

            零件/组件制备

            零件类型、需要的方法

            制备方法取决于零件或组件类型以及要分析的样品大小。根据零件特性和样品大小最终确定解决方案。

            提取/过滤

            搅拌、零件清洗、超声波处理、测试台

            通过喷涂、清洗或超声波处理等方式,从零部件中提取污染物颗粒。随后,让清洁溶液流经过滤器 (过滤器类型取决于清洁的部件),颗粒则会留在薄膜上用于分析。相确提供不同规格的清洗柜和过滤器可用于过滤处理步骤。经过干燥后,对过滤器进行评估。

            颗粒分析

            检测、定量、分类

            根据颗粒大小和类型,对其进行检测、定量和分类,判断其可能引起的潜在破坏性。使用复合或数字显微镜和清洁度软件模块,同时借助徕卡清洁度分析解决方案完成这些任务。使用复合或数字显微镜和清洁度软件模块,同时借助徕卡清洁度分析解决方案完成这些任务。

            检查结果

            ISO 16232 和 VDA19

            仔细复查分析结果,确定是否存在任何具有潜在破坏性的颗粒。金属颗粒的潜在破坏性更高,而徕卡成像解决方案能够自动识别金属颗粒。这些具有潜在破坏性的颗粒会影响组件的使用寿命,甚至还会导致系统故障。

            响应

            采取对应措施

            借助全面清洁度分析得到的结果,使工作流程逐步得到优化。然后识别具有潜在破坏性的颗粒,确定并消除污染源。目标在于不断改进清洁度分析过程,进而消除和较大程度减少污染。

            相确作为清洁度分析检测系统的集成供应商,我们清洁度检测分析提供了正确的解决方案。 用户可以从可靠的结果中受益。 您将收到以下信息:

            >颗粒数量 - >总体污染程度

            >粒径(长度,宽度和高度) - >单个粒子的损伤潜力

            >颗粒材料(反射或非反射,因此是金属或塑料) - >颗粒载荷的一般损伤可能性以及单个颗粒的损伤可能性

            >颗粒和纤维之间的区别 - >单个颗粒的损伤可能性和污染源

            根据分析的产品上述要点的重要性可能会有所不同。 我司清洁度提供灵活的配置和标准,如ISO 16232,VDA 19和ISO 4406根据该分析可以进行分析。

            校准符合国际标准

            根据ISO 16232,在自动粒子测量中,最小粒子的长度应至少为10个像素。

            特别是对于VDA 19和ISO 16232,使用的校准值应与显微镜系统的光学分辨率成比例。

            粒径的校准值取决于显微镜的放大倍数,相机适配器和相机的像素大小

            相机芯片的像素尺寸/放大倍数=校准值

            客观放大

            C-Mount Mag(相机适配器)

            相机芯片上的像素尺寸

            校准系数

            分档模式下的校准因子

            2.5x

            0.7x

            3.2 μm

            1.83 μm/Pixel

            3.66 μm/Pixel

            5x

            0.7x

            3.2 μm

            0.91 μm/Pixel

            1.82 μm/Pixel

            10x

            0.7x

            3.2 μm

            0.46 μm/Pixel

            0.92 μm/Pixel

            示例:3.2μm/(5 x 0.7)=0.9μm/像素?在分档模式下1.8μm/像素

            ?使用5倍放大倍率的物镜时,会显示20μm的粒子。 11个像素

            根据VDA 19,10像素标准主要适用于测量功能关键粒子。

            对于其他粒子测量,要求可以衰减到分辨率值的五倍。

            d(光学分辨率)=l/ 2nA(数值孔径)

            数值孔径

            550 nm的光学分辨率

            5x

            0.15

            1.83 μm

            10x

            0.3

            0.92 μm

            基于缩放的系统的典型值



            1x

            0.075

            3.67 μm

            1x

            0.082

            3.35 μm

            Example: 550/(2 x 0.15) = 1833 nm ? 1.83 μm ? 5 x 1.83 = 9.15 μm

            ?当使用衰减要求(分辨率值的五倍)并使用5倍放大倍率的物镜(给定分辨率为1.83μm)时,可根据VDA 19和ISO 16232建议检测10μm

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